【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part18:Ionizingradiation(totaldose)(IEC60749-18:2002);GermanversionEN60749-18:2003
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第18部分:电离辐射(总剂量)
【标准号】:DINEN60749-18-2003
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2003-09
【实施或试行日期】:2003-09-01
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;电离辐射;航天运输;多语种的;半导体器件;电气工程;定义;破坏试验;环境试验;试验;机械试验;电子工程;气候试验;元部件;半导体;气候;电学测量;军事装备;集成电路;辐照效应
【英文主题词】:
【摘要】:Thetestproceduredescribedinthisstandarddefinesthereqirementsfortestingpackagedsemiconductorintegratedcircuitsanddiscretesemiconductordevicesforionisindradiation(totaldose)effectsfromacobalt-60gammaraysource.Inadditionthisprocedureprovidesanacceleratedannealingtestforestimatinglowdoserateionisingradiationeffectsondevices
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:15P;A4
【正文语种】:德语